Papan ujian semikonduktor bulat 32 lapisan bagi litar Uniwell ialah produk pcb berbilang{1}}lapisan kesukaran tinggi, dengan ciri teras dan kawasan aplikasi berikut:
Ciri-ciri proses teras
Parameter asas: Diperbuat daripada bahan kepingan TG tinggi, dengan ketebalan kira-kira 4.8-5.0mm, permukaannya dirawat dengan emas penyaduran elektrik tempatan, dan lenturan dikawal ketat dalam Kurang daripada atau sama dengan 0.3%, memenuhi keperluan kerataan berketepatan tinggi senario ujian semikonduktor.
Teknologi ketepatan: Menyokong reka bentuk ruang dalaman minimum 0.17mm, dipasangkan dengan teknologi lubang palam resin, dengan apertur minimum 0.4mm, sesuai untuk keperluan pendawaian-ketumpatan tinggi dan tergolong dalam produk pcb hujung-tinggi biasa dengan nisbah ketebalan dan diameter tinggi.
Kawasan aplikasi utama
Papan ujian semikonduktor jenis ini tergolong dalam komponen sokongan teras rantaian industri semikonduktor, terutamanya dibahagikan kepada tiga kategori: papan kad siasatan, papan beban ujian, dan papan penuaan. Senario aplikasi teras termasuk:
Proses pengesahan fungsi dan ujian prestasi selepas pembungkusan cip memastikan penentukuran parameter dan penapisan produk yang baik sebelum
cip meninggalkan kilang
Ujian kebolehpercayaan penuaan bagi cip-tinggi, mensimulasikan keadaan kerja yang melampau untuk mengesahkan kestabilan-jangka panjang operasi cip
Sambungan hiliran meliputi-senario ujian cip akhir tinggi dalam pusat data, pelayan AI, peralatan komunikasi-tinggi, kawalan industri, aeroangkasa dan industri ketenteraan, menyediakan sokongan ujian untuk operasi stabil kuasa pengkomputeran tinggi dan cip kebolehpercayaan tinggi.